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帶你讀懂MOS管參數(shù)「熱阻、輸入輸出電容及開關(guān)時間」
熱阻，英文Thermal resistance，指的是當(dāng)有熱量在物體上傳輸時，在物體兩端溫度差與熱源的功率之間的比值，單位是℃/W或者是K/W。
2020-09-16
MOS管 熱阻 輸入輸出電容 開關(guān)時間
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微流控電阻抗譜測試
瑞士蘇黎世儀器的HF2LI 在微流控電阻抗譜測試中有著廣泛的應(yīng)用。其主要優(yōu)勢:1. 能同時測量6個不同頻率的阻抗；2. 快速測量微流控過程，時間分辨率高達(dá)5 μs；3. 極寬的測量頻率范圍，從1 mHz到50 MHz；4. 使用差分電流輸入來降低背景噪聲。
2020-09-15
微流控電阻 電阻抗譜測試
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高速復(fù)用數(shù)模轉(zhuǎn)換器同步方法
在很多發(fā)射應(yīng)用中必須產(chǎn)生多路相對相位準(zhǔn)確已知的模擬輸出。在正交調(diào)制器中(圖 1)，I 和 Q 通道必須具有明確的相位關(guān)系來實現(xiàn)鏡頻抑制。圖 1 中，DAC1 和 DAC2 的延遲必須匹配。使用數(shù)字波束成形技術(shù)的發(fā)射器需要準(zhǔn)確地控制大量 DAC 之間的相對相位。
2020-09-14
DAC 分頻器 數(shù)字波束成形技術(shù) 發(fā)射器 多路復(fù)用器
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放大器Vos失調(diào)電壓的產(chǎn)生與影響
放大器的失調(diào)電壓是工程師在直流耦合電路設(shè)計中，評估頻次極高的參數(shù)，本篇通過一個案例介紹失調(diào)電壓的影響方式，以及探討產(chǎn)生原因。
2020-09-11
放大器 Vos失調(diào)電壓
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精密運(yùn)算放大器失調(diào)原因與解決方案
對于精密電子，放大電路必須滿足設(shè)計指標(biāo)中的精度要求。設(shè)計這些放大器時所面臨的一個問題是：流入放大器輸入端的電流所產(chǎn)生的電壓失調(diào)。本文中，我們首先分析了產(chǎn)生失調(diào)的原因，并基于集成電阻網(wǎng)絡(luò)給出了相應(yīng)的解決方案。
2020-09-11
精密運(yùn)算放大器 放大器 精密電子
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應(yīng)用于電機(jī)驅(qū)動的隔離運(yùn)放單端和差分輸出對采樣性能的影響
電機(jī)驅(qū)動器是用來控制各種電機(jī)，比如AC變頻器，伺服電機(jī)的一種控制器。一般是通過位置、速度和力矩三種方式對電機(jī)進(jìn)行控制，實現(xiàn)傳動系統(tǒng)定位。高分辨率、精確電壓電流測量在需要高性能扭矩和運(yùn)動控制的工業(yè)電機(jī)驅(qū)動應(yīng)用中至關(guān)重要。因為工業(yè)電機(jī)驅(qū)動器需要滿足 (IEC) 61800-5-1的電氣安全的需求，...
2020-09-11
電機(jī)驅(qū)動 隔離運(yùn)放 差分輸出 采樣性能
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什么是抖動和相位噪聲？如何區(qū)分晶振時鐘？
抖動（Jitter）反映的是數(shù)字信號偏離其理想位置的時間偏差。高頻數(shù)字信號的 bit 周期都非常短，一般在幾百 ps 甚至幾十 ps，很小的抖動都會造成信號采樣位置電平的變化，所以高頻數(shù)字信號對于抖動都有嚴(yán)格的要求。
2020-09-10
抖動 相位噪聲 晶振時鐘 數(shù)字信號
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2020中國（深圳）集成電路峰會將于10月底召開
每年一屆的中國（深圳）集成電路峰會（簡稱“IC峰會”）是集成電路產(chǎn)業(yè)界研討和交流的盛會，2020年中國（深圳）集成電路峰會將在10月29—30日在深圳南山區(qū)召開。
2020-09-10
集成電路
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如何放緩開關(guān)期間的dV/dt
在電動機(jī)控制等部分應(yīng)用中，放緩開關(guān)期間的dV/dt非常重要。速度過快會導(dǎo)致電動機(jī)上出現(xiàn)電壓峰值，從而損壞繞組絕緣層，進(jìn)而縮短電動機(jī)壽命。在本應(yīng)用說明中，來自UnitedSiC 的Zhongda Li比較了三種不同的dV/dt控制方法。
2020-09-03
放緩開關(guān) dV/dt
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