【導讀】為了滿足高速數據傳輸需求，數據中心蓬勃發展，在這個過程中光器件的作用變得越來越重要。實現電信號與光信號之間的高效轉換需要精確的測試解決方案，尤其是用于對高度集成的光器件執行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴峻挑戰，但已經有一些創新的解決方案能夠提高測試效率和準確度。
摘要
為了滿足高速數據傳輸需求，數據中心蓬勃發展，在這個過程中光器件的作用變得越來越重要。實現電信號與光信號之間的高效轉換需要精確的測試解決方案，尤其是用于對高度集成的光器件執行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴峻挑戰，但已經有一些創新的解決方案能夠提高測試效率和準確度。
正文
為了滿足高速數據傳輸需求，數據中心蓬勃發展，在這個過程中光器件的關鍵作用日益顯現。實現電信號與光信號之間的高效轉換需要精確的測試解決方案，尤其是能夠對高度集成的光器件執行測試的解決方案。光器件能夠高效轉換電信號和光信號，在支撐現代數據中心發展過程中的作用舉足輕重。尤其是用戶對于更高速度、更小尺寸和更大數據流量的需求不斷增長，推動了高度集成的光器件的長足發展。這些先進的器件將眾多功能和元器件整合在一起，有助于打造高效的小型化系統。
圖 1. 對集成的光器件執行測試需要大量高精度的偏置信號源
測試高度集成的光器件需要用到大量高精度的偏置信號源。以圖 1 所示為例，對集成的可調諧波長激光源執行測試，需要為激光二極管提供精密的電流源，以確穩定的保光學性能。此外，在測試過程中還需要為每個加熱器提供高精度的偏置信號源，以便精準調節半導體光放大器（SOA）的波長。同樣，相干光收發信機也需要采用多個能夠與相位控制電極精準同步的高精度偏置信號源，以便將電信號準確轉換為光信號。
為了測試可調諧激光源和相干接收機的光功率和波長，工程師要通過非常精細的偏置掃描來完成詳細的表征。因此，他們會遇到測試時間顯著延長以及熱效應帶來預料之外的波長偏移等問題。為了解決這類問題，一種有效方案是盡量縮短每個掃描步驟的持續時間，實現快速掃描。
光器件測試的必要性
光器件是高速數據傳輸系統的命脈。無論是把光信號轉換成電信號的接收機，還是對數據進行載波整形然后編碼到光載波上的調制器，這些元器件構成了現代通信網絡的基石。人們不懈地追求更高的數據傳輸速率，希望數據中心具有更大帶寬，這樣的需求給光器件帶來了巨大的負擔。測試這些元器件的關鍵意義在于確保它們在數據中心的動態環境下維持可靠性、出色的性能和兼容性。
對光器件執行測試是保證元器件能夠經受考驗實現連續運行的關鍵舉措。嚴格的測試有助于發現元器件中可能存在的弱點、漏洞或性能局限，以便工程師完善設計并實施改進。隨著數據中心架構的不斷升級以及對能效要求的進一步提高，測試對于盡最大可能降低光器件的功耗并優化熱特性有著重大意義。
準確的測試還有助于驗證理論模型和仿真過程，確保這些元器件在現實場景中的表現與預期相符。工程師必須確信光器件能夠在各種條件下可靠地工作，完美應對溫度變化、功率波動和信號失真等情況。
除了確保單個元器件的穩健性，測試對于提高整個系統的集成度也意義重大。通過在測試階段發現并解決兼容性、信號完整性和互操作性等問題，能夠避免在數據中心部署的后期階段出現潛在隱患。
遵守行業標準和法規至關重要，全面的測試是滿足乃至超越這些基準要求的關鍵。無論標準涉及的是光功率電平、信噪比還是比特誤碼率，測試都能確保光器件符合行業制定的嚴格標準。
從本質上講，光器件測試的重要性遠遠超過了質量控制，成為了提高數據中心網絡能力一個戰略性舉措。通過對元器件執行嚴格的測試，工程師為推動創新掃清了障礙，能夠進一步提升數據中心基礎設施的效率、可靠性和整體性能，制勝未來。
光器件測試面臨的挑戰
在數據中心環境下完成復雜的光器件直流（DC）偏置測試對工程師而言存在諸多挑戰。本文旨在剖析這些挑戰，看看工程師會遇到哪些障礙。
精度要求：控制偏置電壓和電流需要的精度是一個非常大的挑戰。光器件與生俱來就對偏置變化非常敏感，要求的精度水平超出了傳統測試設備的極限。由于光器件的容差小，又具有動態特性，因此達到并保持必要的精度頗有難度。
動態運行條件：數據中心環境是一個動態環境，溫度、功率和信號條件的波動都是常態。在這樣的動態運行條件下保持穩定的直流偏置相當有難度。光器件必須始終如一地可靠運行，即便在偏置電平快速變化的情況下也是如此，因此對這些元器件進行測試就非常有必要。
調制器的非線性特性：調制器作為光通信系統中的關鍵元器件，其非線性特性會讓測試流程變復雜。傳統的測試設備可能需要幫助才能準確捕捉和再現復雜的調制特性，這樣可能會導致實際操作條件下的調制器性能評估不準確。
接收機靈敏度：光接收機負責將光信號轉換為電信號，它容易受到偏置電平變化的影響。在接收機上維持穩定、準確的偏置電平是一項非常復雜且細致的工作，因為就算是輕微的偏差也會影響信號質量，繼而影響整個通信系統的可靠性。準確地捕捉與光對應的大電流變化也極具挑戰性。
通道密度越來越高：高度集成的光器件具有更多的測試端口和元器件，需要大量高精度電源和巨大的空間。例如，一體化可調諧激光源需要為激光二極管提供精密電流源，才能確保穩定的光性能，還需要為加熱器提供高精度的偏置信號源，以便精準調節波長。相干光調制器也需要采用多個能夠與相位控制電極精準同步的高精度偏置信號源，以便將電信號準確轉換為光信號。
對現實世界的仿真：在實驗室環境下仿真現實場景非常具有挑戰性。工程師必須確保測試條件能夠準確反映數據中心運行過程中的復雜情形。這包括仿真光器件在數據中心實際運行中可能遇到的各種變化，例如負載變化和環境溫度波動。
總之，對數據中心的光器件執行直流偏置測試面臨多重挑戰，其中包括密度、精度、動態條件、非線性特性、靈敏度、高速數據傳輸需求和對真實場景的仿真。應對這些挑戰需要采用創新的方法和專門的設備，而源表模塊（SMU）在突破這些復雜障礙方面發揮了關鍵作用。
對光器件展開高精度、高功率密度的測試
為了應對數據中心環境下光器件直流偏置測試面臨的多方面挑戰，工程師將目光轉向了多功能 SMU。接下來本文會詳細探討SMU 在幫助工程師應對這些挑戰時所發揮的關鍵作用。
高精度和穩定性
SMU 的精妙之處在于它能精確測量偏置電壓和電流。SMU 具有超高精度，使得工程師能夠極其準確地設置和保持偏置電平。SMU 還具有卓越的穩定性，確保光器件獲得一致且可靠的偏置條件。SMU 可通過低噪聲直流信號降低引入不必要干擾的風險，這些干擾可能會影響測試結果的準確度。
智能觸發控制
圖 2. 能夠靈活同步的智能觸發系統流程圖
SMU 擅長動態偏置控制，這是處理在動態數據中心條件下運行的光器件時用到的一項關鍵功能。有些 SMU 還有其他功能，例如用于高速時序控制的智能觸發系統，如圖 2 所示。SMU 的動態能力使得工程師能夠仿真偏置電平的快速變化，重建光器件在高速數據傳輸環境下面臨的真實場景。這不僅能確保測試的準確性，還能洞察光器件在動態運行條件下的性能。
調制器的非線性特性
SMU 能管理調制器的非線性特性。憑借 SMU 的可編程性和高精度等優勢，工程師能夠準確捕捉和再現調制器的調制特性。通過提供穩定、可控的偏置環境，SMU 可以深入分析調制器的性能，確保測試結果與實際預期保持一致。
接收機靈敏度
SMU 的一大優勢是能解決接收機的靈敏度問題，因為它們能夠進行必要的微調控制，以便為接收機提供穩定的偏置條件。借助 SMU，工程師可以定制偏置參數來匹配光接收機的靈敏度，確保在較寬的電流范圍下和可重復測試條件下的測試精度。需要特別指出的是，即使偏置電平出現細微偏差，光接收機的性能也會受到影響，在這種情況下，SMU 的精密度就顯得尤為關鍵。
高功率密度的、緊湊的外形設計
圖 3. 20 通道偏置解決方案設置示例
如圖 3 所示， 基于高通道密度對SMU 進行外形尺寸設計，能為用戶節省寶貴的機架空間，盡可能縮小測試系統的占地面積。有些靈活的 SMU 支持混搭模塊配置，實現靈活擴展。集成了脈沖發生器和數字化儀功能的一體化SMU 解決方案，能夠減少所需測試儀器的數量，縮小系統的占地面積。SMU 在小巧的外形尺寸下提供多通道、高精度的電流偏置，以應對光器件測試面臨的挑戰。它不僅精度高，還易于集成，可以簡化光器件的測試評估流程，節省大量空間，同時提高測試效率。
對現實世界的仿真
SMU 有助于在實驗室環境下對現實世界中的真實場景進行仿真。得益于 SMU 的動態和可編程特性，工程師可以重建真實數據中心運行下的各種條件。無論是仿真負載變化、環境溫度波動還是其他動態因素，SMU 都非常靈活，能確保在接近真實場景的條件下對光器件進行測試。
結論
要想解決光器件直流偏置測試中遇到的各種挑戰，包括密度、精度、智能觸發控制、非線性特性、靈敏度、高速數據傳輸需求和對真實場景的仿真等難題，對于工程師而言，SMU 是一種不可或缺的利器。SMU 的多功能和高精度這兩大特性，對于在數據中心環境下可靠地測試高性能光器件起到了至關重要的作用。
（來源：是德科技，作者：是德科技產品營銷經理Gobinath Tamil Vanan）
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